Mecanismos de crecimiento y estructura de las películas delgadas de óxido de silicio obtenidas a baja temperatura
Author
Najmi, OmarAdvisor
Montero Herrero, IsabelEntity
UAM. Departamento de Física AplicadaDate
1995-03-10Subjects
Láminas delgadas - Tesis doctorales; Láminas de óxido de silicio - Tesis doctorales; FísicaNote
Tesis doctoral inédita leída en la Universidad Autónoma de Madrid, Facultad de Ciencias, Departamento de Física Aplicada. Fecha de lectura: 10-03-1995Files in this item
Google Scholar:Najmi, Omar
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