UAM_Biblioteca

View Item 

Sistemas metal-semiconductor estudiados mediante microscopía de efecto túnel de temperatura variable : propiedades electrónicas, transiciones de fase y difusión superficial

Author
Brihuega Álvarez, Ivánuntranslated
Advisor
Gómez Rodríguez, José Maríauntranslated
Entity
UAM. Departamento de Física Teórica de la Materia Condensada
Date
2005-12-19
Subjects
Microscopía de barrido de efecto túnel - Tesis doctorales; Física
URI
http://hdl.handle.net/10486/663462
Note
Tesis doctoral inédita leída en la Universidad Autónoma de Madrid, Facultad de Ciencias, Departamento de Física de la Materia Condensada. Fecha de lectura: 19-12-2005
Show full item record

Files in this item

Size
4.797Mb
Format
PDF
Description
Texto de la Tesis Doctoral

Google™ Scholar:Brihuega Álvarez, Iván

This item appears in the following Collection(s)