Sistemas metal-semiconductor estudiados mediante microscopía de efecto túnel de temperatura variable : propiedades electrónicas, transiciones de fase y difusión superficial

dc.contributor.advisor	Gómez Rodríguez, José María
dc.contributor.author	Brihuega Álvarez, Iván
dc.contributor.other	UAM. Departamento de Física Teórica de la Materia Condensada	es_ES
dc.date.accessioned	2015-01-29T12:40:36Z
dc.date.available	2015-01-29T12:40:36Z
dc.date.issued	2005-12-19
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10486/663462
dc.description	Tesis doctoral inédita leída en la Universidad Autónoma de Madrid, Facultad de Ciencias, Departamento de Física de la Materia Condensada. Fecha de lectura: 19-12-2005	es_ES
dc.format.extent	189 pag.	es_ES
dc.format.mimetype	application/pdf	es_ES
dc.language.iso	spa	en
dc.subject.other	Microscopía de barrido de efecto túnel - Tesis doctorales	es_ES
dc.title	Sistemas metal-semiconductor estudiados mediante microscopía de efecto túnel de temperatura variable : propiedades electrónicas, transiciones de fase y difusión superficial	es_ES
dc.type	doctoralThesis	en
dc.subject.eciencia	Física	es_ES
dc.rights.accessRights	closedAccess	en
dc.authorUAM	Brihuega Álvarez, Iván (260408)
dc.facultadUAM	Facultad de Ciencias

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