Microscopía de fuerza bimodal y no resonante para medir propiedades físicas y químicas a escala nanométrica
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Microscopía de fuerza bimodal y no resonante para medir propiedades físicas y químicas a escala nanométrica
Title:
Microscopía de fuerza bimodal y no resonante para medir propiedades físicas y químicas a escala nanométrica
Author:
Álvarez Amo, Carlos
Advisor:
García García, Ricardo (dir.)
Entity:
UAM. Departamento de Física Teórica de la Materia Condensada; CSIC. Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM)
Date:
2019-01-18
Subjects:
Nanociencia - Tesis doctorales; Espectroscopía - Tesis doctorales; Física
Note:
Tesis Doctoral inédita leída en la Universidad Autónoma de Madrid, Facultad de Ciencias, Departamento de Física Teórica de la Materia Condensada. Fecha de lectura: 18-01-2019
Esta tesis tiene embargado el acceso al texto completo hasta el 18-07-2020
Esta tesis tiene embargado el acceso al texto completo hasta el 18-07-2020
Esta obra está bajo una licencia de Creative Commons Reconocimiento-NoComercial-SinObraDerivada 4.0 Internacional.
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Álvarez Amo, Carlos