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Advanced force spectroscopy applications: Three-dimensional AFM and single-molecule force spectroscopy

Author
Uhlig, Manuel Ralph
Advisor
García García, Ricardountranslated
Entity
UAM. Departamento de Física Teórica de la Materia Condensada; CSIC. Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM)
Date
2020-03-04
Subjects
Microscopio de Fuerza Atómica - Usos - Tesis doctorales; Nanotecnologías - Aplicaciones - Tesis doctorales; Física
URI
http://hdl.handle.net/10486/692160
Note
Tesis doctoral inédita leída en la Universidad Autónoma de Madrid, Facultad de Ciencias, Departamento de Física Teórica de la Materia CondensadaAplicada. Fecha de lectura: 04-03-2020
Esta tesis tiene embargado el acceso al texto completo hasta el 04-09-2021

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Esta obra está bajo una licencia de Creative Commons Reconocimiento-NoComercial-SinObraDerivada 4.0 Internacional.
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Description
Texto de la Tesis Doctoral

Google™ Scholar:Uhlig, Manuel Ralph

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